Distribuciones probabilísticas no tradicionales para el estudio de la confiabilidad de LEDs empleados en iluminación/Non-traditional probabilistic distributions for reliability study of LEDs used in lighting

Diego de los Angeles Fernández Labrada, Miguel Castro Fernandez, Ernesto Alejandro Guerra Blanco, Degnis Fernández Martínez

Resumen


Debido al incremento del uso de la tecnología LED (Light Emitting Diode) y a la complejidad de sus modos y mecanismos de falla, su confiabilidad resulta un tema clave de investigación. Para realizar estudios de confiabilidad, la distribución de Weibull es generalmente la más empleada, pero en los LEDs, como estos se degradan continuamente, dicha distribución podría no funcionar con la misma eficacia. Este artículo muestra el procedimiento para la obtención de modelos de confiabilidad de LEDs blancos empleados en iluminación, a partir de distribuciones de probabilidad no tradicionales de “tiempos hasta el fallo” obtenidos, según criterio  de ASSIST, en ensayos acelerados de la literatura consultada. Los análisis realizados con los “tiempos hasta el fallo” mostraron que no hay evidencia suficiente para rechazar que los datos siguen la distribución de Weibull-Exponencial Generalizada (WGED) y la distribución Modificada de Weibull (MWD), según la Prueba de Bondad de Ajuste Kolmogorov-Smirnov.

Due to the increased use of LED technology and the complexity of its modes and failure mechanisms, its reliability is a key research issue. To carry out reliability studies based on accelerated test data, the Weibull distribution is generally the most widely used; but in the LEDs, as these are degraded continuously, this distribution may not work with the same efficacy. This paper shows the procedure for obtaining reliability models of white LEDs used in lighting, from non-traditional probability distributions of "times to failure" obtained, according to the criterion of ASSIST, from accelerated testing of the consulted literature. The analyzes carried out with the “times to failure” showed that there is insufficient evidence to reject that the data follow the distributions of Weibull-Exponential Generalized(WGED) and Modified Weibull(MWD), according to the Kolmogorov-Smirnov Test.


Palabras clave


LEDs blancos; Análisis de Confiabilidad; Ensayos Acelerados; Distribuciones no tradicionales de probabilidad; tiempo de vida; White LEDs; Reliability Analysis; Accelerated Test; non-traditional probability distributions; lifetime.

Texto completo:

PDF


Revista Científica Ingeniería Energética | Centro de Investigaciones y Pruebas Electro-energéticas (CIPEL)
Facultad de Ingeniería Eléctrica | Universidad Tecnológica de La Habana "José Antonio Echeverría". Cujae.
Calle 114 No. 11901. e/ Ciclovía y Rotonda. Marianao 15. La Habana, Cuba. CP 19390. Teléfono: (537) 7 266 3007
E-mail:renergetica@electrica.cujae.edu.cu | WEB: http://rie.cujae.edu.cu/index.php/RIE/index
ISSN 1815-5901